量子科学论坛(79)|王成:迈向高保真度、大规模并行量子态读取的低温CMOS片上集成反射测量阵列

2023/02/06

日期和时间:2023年2月7日(周二)14:00

地点:量子院526会议室

腾讯会议:ID:606406233   PW:105188



报告人:王成 电子科技大学电子科学与工程学院教授

主持人:金贻荣  量子院研究员

题目:迈向高保真度、大规模并行量子态读取的低温CMOS片上集成反射测量阵列


摘要:低温金属互补氧化物半导体CMOS是近年来一项新兴的量子比特测量与控制技术,通过将电子学量子测控系统以主流CMOS技术单片集成,并工作在低温(1~4K)温区,其主要目的是为了解决量子比特的规模化问题。当前的低温CMOS技术研究,大多集中在如何实现高质量的微波脉冲激励。然而,高保真度的并行量子态读取,面临诸多技术难题,例如低温器件热传递、CMOS器件的低温热/闪烁噪声、单脉冲读取中的相位噪声等,尚未被充分认识和研究。本报告将讨论主流的芯片化反射测量方案存在的优点和不足,并介绍本研究组在反射测量单元和阵列方面的最新研究进展。

报告人简介:王成,电子科技大学 电子科学与工程学院教授/博导,国家青年人才。2008年本科毕业于清华大学工程物理系;2011年硕士毕业于中国工程物理研究院研究生部;2020年博士毕业于美国麻省理工学院(MIT)电气工程与计算机科学系。2011-2015年,担任中国工程物理研究院电子工程研究所助理研究员;2019-2020年,担任美国亚德诺半导体(ADI)研究科学家;2021年2月,加入电子科技大学电子科学与工程学院。

王成教授所提出的芯片级分子时钟作为封面文章发表于2018年7月的Nature子刊Nature Electronics,被MIT新闻等媒体报道,并被美国国防部先进技术发展局DARPA作为下一代可移动高稳定时钟项目H6的两大技术路线之一。2022年以来,王成教授课题组在低温CMOS领域取得一系列进展。在有着集成电路领域国际奥林匹克之称的国际固态电路会议(ISSCC)上发表4篇论文,在领域旗舰刊物IEEE固态电路杂志(JSSC)发表6篇论文。截至目前,共发表学术论文51篇, Google scholar引用达1003次,H-index为17,i10-index为27。国外学习期间,曾荣获2019-2020年度IEEE固态电路协会博士前成就奖,2018年度留学基金委国家优秀自费留学生奖学金,MIT微系统实验室优秀博士论文奖(2名/年),ADI杰出学生设计奖,2018年ISSCC学生旅行奖和IEEE MTT-S波士顿分会奖学金等奖项。国内学习工作期间,主要从事高速通信技术及毫米波/太赫兹高频组件研究,曾获得军队武器装备科技进步一等奖和邓稼先青年科学家奖等奖项,研究成果曾参加“十一五”863重大科技成果展。